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FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀

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更新時間：2022-11-04 17:09:41瀏覽次數：862次

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北京中儀萬成科技有限公司

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產品簡介

FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀詳情介紹FT-330Seriescommonfourproberesistanceratiotestinstrument適用范圍Widelyused：1.覆蓋膜;導電高分子膜

詳細介紹

FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀詳情介紹

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

適用范圍Widely used：

1.覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，

3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，

4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，

功能描述Description：

1. 四探針單電測量方法

2. 液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.

3. 集成電路系統、恒流輸出.

4. 選配：PC軟件進行數據管理和處理.

5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

參照標準：

1.硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

型號及參數

規格型號	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方塊電阻范圍	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.電阻率范圍	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
3.測試電流范圍	0.1μA ，1μA，10μA，100µA， 1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA， 10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA， 1mA，10mA，100mA	10μA，100µA， 1mA，10mA， 100mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA， 1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA， 1mA，10mA，100mA
4.電流精度	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.電阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率
7.測試方式	普通單電測量
8.工作電源power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.誤差errors	≤4%（標準樣片結果）
10.選購功能	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻
11.測試探頭	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針