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北京英格海德分析技術有限公司

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二次離子/濺射中性粒子質譜儀

詳細摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
產品型號：所在地：更新時間：2023-02-24 在線留言
PSM等離子體質量和能量分析質譜儀

詳細摘要： Hiden plasma probes measure some of the key plasma parameters and provide detail...
產品型號：所在地：更新時間：2023-02-02 在線留言
EQP等離子體質量和能量分析質譜儀

詳細摘要： The EQP system directly measures mass and energy of both positive and negative p...
產品型號：所在地：更新時間：2023-01-31 在線留言
過程氣體分析質譜儀

詳細摘要： The HPR-30 is a residual gas analyser configured for analysis of gases and vapou...
產品型號：所在地：更新時間：2023-01-24 在線留言
二次離子質譜探針

詳細摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
產品型號：所在地：更新時間：2022-12-01 在線留言
二次離子質譜工作站

詳細摘要： The Hiden SIMS Workstation provides for high performance static and dynamic SIMS...
產品型號：所在地：更新時間：2022-11-01 在線留言
飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS

詳細摘要：品牌：Hiden 型號：TOF-qSIMS 制造商：Hiden Analytical Ltd 產地：英國
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-01 在線留言