詳細(xì)摘要: 簡要描述: 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進(jìn)行測量,可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時(shí)間:2023-07-04 在線留言通信電纜 網(wǎng)絡(luò)設(shè)備 無線通信 云計(jì)算|大數(shù)據(jù) 顯示設(shè)備 存儲設(shè)備 網(wǎng)絡(luò)輔助設(shè)備 信號傳輸處理 多媒體設(shè)備 廣播系統(tǒng) 智慧城市管理系統(tǒng) 其它智慧基建產(chǎn)品