HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析儀IM7583,基本參數:
測量頻率 1 MHz~600 MHz
測量范圍 L: 0.0265 nH~0.795 mH
C: 0.0531 pF~1.59 ?F
(根據測量頻率而定)
測量信號電平 -40.0 dBm~+1.0 dBm
基本精度 Z:0.65% rdg. θ: 0.38°
HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析儀IM7583特點:
為了保證正確并可靠的測量,搭載了多種功能:
補償功能—為了測量的準確性,建議在測量前進行補償。
開路/短路/Load補償
進行從阻抗分析儀主機到標準面(測試頭端子或樣品連接端子任一)的
校正。
連接開路、短路、load3種補償治具,測量各自的補償數據并去除誤差因素
電氣長度補償
以數值輸入從標準面的測試樣品接觸面為止的電氣長度,補償相移導致的誤差。測試頭上安裝治具時,需要輸入治具的電氣長度。
開路/短路補償
去除從校正標準面到樣品的連接端子為止的誤差因素(治具或測試線等)
接觸檢查-檢查測量端子和被測元件的接觸狀態。
Hi-Z篩選功能 根據測量結果判定接觸狀態
開啟該功能后,當測得的阻抗值大于設定的標準值時,測量端子的接觸狀態會被判定為錯誤,并輸出錯誤提示。
DCR測量 確認測試前后的接觸狀態
適用于電感、磁珠、共模濾波器等的直流電阻值和低電感性元件的接觸檢查。
設置接觸電阻值的上下限并以此進行判定
波形判定功能 測量中的波形變動檢測
測量過程中,確認元件和端子是否處于接觸狀態。以讀取的有效值波形為標準,當有效值的變動超出預設范圍時,輸出錯誤提示。