上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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詳細(xì)摘要： PHI 4700 AES俄歇分析儀在開發(fā)新材料及薄膜制程上，為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問題，材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。
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