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北京金三航科技發展有限公司
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產品簡介： 目前，對中小規模數字IC進行簡單的邏輯功能測試，已不能滿足IC用戶的測試需求
目前，對中小規模數字IC進行簡單的邏輯功能測試，已不能滿足IC用戶的測試需求。市場上所見到的<功能測試儀>無法對IC器件進行直流參數測試和比較，因此會把74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125與74LS32及OC門與圖騰柱輸出門等功能性能特性*不一致的器件混為一類。<功能測試儀>實用價值很低，用這類儀器測試通過后的IC，有時上機卻不能正常使用。給生產及調試人員增添了不少煩惱!
| 系統的主要特點: |
1． 測試電源拉偏狀態下，輸出電平加載測試。
2． 對輸出電流、輸出電壓直流參數進行測試的同時，完成真值表功能測試。
3． 真值表功能測試的同時，完成“三態”（高阻狀態）漏電流測試。
4． 對IC輸入電流、功耗電流測試。
5． 輸入漏電流及交叉漏電流測試。
6． 測試過程無須人工干預。
7． 用戶可以自選測試模式，使用方便、操作簡潔。
8． 可自動識別74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型號。
| 產品主要性能: |
在功能測試的基礎上
1. 測試器件的輸入端注入電流。
2.測試器件的輸入端交叉漏電流。
3.測試器件的輸出端“三態”及“OC”門。
4. 測試器件的輸出負載電流。
5. 測試器件的功耗電流。
6.查找未知芯片型號。
7. 可以單次測試，也可以循環測試.
8.可自動識別74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。當被測芯片被確認為74系列CMOS器件時，儀器將自動地對其進行測試并在顯示屏前顯示一個“C”字（此時被測器件電源為TTL電源）。
| 多值測試參數: |
1.8種可選擇的測試電源。
2.根據不同材料的IC設置多種輸入端注入電流。
3. 多種測試電壓比較值。
4. 功耗測試。
以上參數的不同組合構成不同的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。
| 測試模式: |
1.模式O： 全組合參數測試。
2.模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測試參數數值。
3.模式D： 任選輸入負載電流及測試電源和輸入電流測試。
4.模式E： 自檢。內容包括計算機部分、顯示、鍵盤及測試管腳電路。
5.模式F： 自編程測試。
| 測試范圍及測試品種: 28Pin |
1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦
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