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北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)AT256 A4
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2023-07-22 13:55:27瀏覽次數(shù)：360次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 智慧城市網(wǎng)英國(guó)abi_AT256 A4集成電路測(cè)試儀綜合工作站具備二維集成電路V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;二維電路板V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充至2048路）;三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充至2048路）
產(chǎn)品內(nèi)容：
英國(guó)abi_AT256 A4
集成電路測(cè)試儀綜合工作站通道配置：
二維集成電路V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：256路
二維電路板V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：64/128/192/256路（可擴(kuò)充至2048路）
三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：64/128/192/256路（可擴(kuò)充至2048路）
功能用途：
1）集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；
2）快速篩選仿制集成電路及元器件；
3）對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析；
4）非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試分析；
5）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；
6）測(cè)試安全可靠，全面解決器件工藝、電路板工藝問(wèn)題，快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問(wèn)題；
7）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測(cè)；
8）配合測(cè)控平臺(tái)軟件，實(shí)現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測(cè)試。
技術(shù)規(guī)格：
1）256路二維集成電路V-I端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試通道；
2）64/128/192/256路二維電路板V-I端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試通道；
3）64/128/192/256路V-I-F三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試通道；
4）4路探筆測(cè)試，4路V-T/V-T-F測(cè)試通道；
5）顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F；
6）可定制各種封裝通用集成電路測(cè)試治具；
7）可定制各種電路板I/O接口測(cè)試治具；
8）系統(tǒng)提供測(cè)試自定義報(bào)告輸出；中英文測(cè)試操作軟件；
9）設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048組測(cè)試通道。
英國(guó)abi_AT256 A4集成電路測(cè)試儀綜合工作站測(cè)試原理(V-I曲線測(cè)試)：
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。
被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:
1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).
2.將集成電路插入測(cè)試座.
3.執(zhí)行測(cè)試
4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.
不需要電子知識(shí).
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板.
靈活、好安裝、宜操作.
測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.
可提供完整的集成電路自定義測(cè)試分析報(bào)告.
英國(guó)ABI-AT256 A4全品種集成電路測(cè)試儀適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無(wú)引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT256 A4不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)電路板的測(cè)試。
三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試
AT256 A4內(nèi)圖1
AT256 A4測(cè)試報(bào)告
AT256 A4內(nèi)圖2
北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國(guó)ABI技術(shù)服務(wù)中心）提供:
集成電路測(cè)試儀,集成電路篩選測(cè)試儀,元器件篩選測(cè)試儀,元器件檢測(cè)儀,三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試儀的使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測(cè)試程序開發(fā)編譯服務(wù)。
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