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德國ZEISS X射線顯微鏡ZEISSXradiaContextmicroCT
Zeiss是一家制造光學(xué)和光電設(shè)備的德國品牌，總部位于Oberkochen(奧伯科亨市，巴登符堡州)。品牌的名稱來源于它的創(chuàng)始人之一 —— 卡爾·蔡司先生（1816年-1888年）。它由卡爾·蔡司(Carl Zeiss)、恩斯特·卡爾·阿貝(Ernst Karl Abbe)和奧托·肖特(Otto Schott)于1846年在耶拿(Jena)建立。
X射線顯微鏡：
X射線顯微鏡：
產(chǎn)品介紹：
科學(xué)研究和技術(shù)開發(fā)的進(jìn)步極大程度地依賴于用以表征材料性能和特性的高效成像解決方案。無論是開發(fā)與論證用于描述材料性能和特性的模型，或是簡單地對結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)信息進(jìn)行成像，能以三維方式揭示微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)是關(guān)鍵所在。ZEISS三維X射線顯微鏡（XRM）：即便是相對較大的樣品，的成像解決方案也可以借助高襯度和亞微米分辨率出色地完成三維成像。在無損三維（3D）成像方面取得的這一系列突破性飛躍，大大拓寬了技術(shù)學(xué)科的研究范圍。
型號示例：
德國ZEISS ZEISSXradiaContextmicroCT
ZEISSXradiaContext是一款大視場、非破壞性3DX射線微米計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)。憑借強(qiáng)大的平臺(tái)和靈活的軟件控制源及探測器定位，您可以在完整的三維環(huán)境中對大尺寸、重量25kg內(nèi)和高尺度樣本進(jìn)行成像，同樣也可以對小樣品進(jìn)行高分辨率的成像。
德國ZEISS ZEISSXradiaCrystalCT
ZEISSXradiaCrystalCT是為您揭示樣品晶體信息和微觀結(jié)構(gòu)秘密的開創(chuàng)性微米CT。本產(chǎn)品以其*方式擴(kuò)展了計(jì)算機(jī)斷層掃描的強(qiáng)大技術(shù)，使其具有展示晶體晶粒微觀結(jié)構(gòu)的能力，改變了研究多晶體材料（如金屬、增材制造、陶瓷等）的方式，從而為您的材料研究帶來更新、更深的洞見。
德國ZEISS ZEISSXradia610&620Versa
ZEISSXradia610&620Versa3DX射線顯微鏡在科研和工業(yè)研究領(lǐng)域?yàn)槟_啟多樣化應(yīng)用的新高度?；诟叻直媛屎鸵r度成像技術(shù)，Xradia610&620Versa大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。
德國ZEISS ZEISSXradia520Versa
亞微米X射線顯微鏡Xradia520Versa基于業(yè)界前沿的高分辨率和襯度成像技術(shù)，拓展了無損成像的應(yīng)用局限。創(chuàng)新的成像襯度和圖像采集技術(shù)讓你自由地定位并發(fā)現(xiàn)您前所未見過的信息。
德國ZEISS ZEISSXradia515Versa
ZEISSXradia515Versa得益于兩級放大的架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)大工作距離下亞微米級分辨率成像（RaaD）。減少對單級幾何放大的依賴性，在大工作距離下依然保持了亞微米級分辨率。
德國ZEISS ZEISSXradia410Versa
Xradia410Versa補(bǔ)了高性能三維X射線顯微鏡技術(shù)解決方案與傳統(tǒng)低成本、低性能且基于投影的計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）系統(tǒng)之間的空白。多種射線源的選擇可靈活應(yīng)對多種樣品尺寸和樣品類型的成像應(yīng)用。
德國ZEISS X射線顯微鏡ZEISSXradiaContextmicroCT
