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20路接觸卡可靠性測試設(shè)備

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產(chǎn)品型號QTG20-C

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更新時間：2023-04-26 11:00:51瀏覽次數(shù)：1695次

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赤松城（北京）科技有限公司

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聯(lián)系人：高健民（產(chǎn)品經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

QTG20-C是一款用于接觸式智能卡的高低溫壽命測試和早期失效率評估測試的硬件設(shè)備，與CSC STG1001智能卡測試平臺配合使用，為接觸式智能卡提供了自動化測試解決方案。（20路接觸卡可靠性測試設(shè)備）

詳細介紹

產(chǎn)品特性：
> 內(nèi)置20路讀卡器電路，支持20路7816接口同時測試
  > 支持高低溫測試環(huán)境，工作范圍可達-40℃~＋125℃
  > 支持標(biāo)準(zhǔn)卡、2FF/3FF/4FF、8PIN/6PIN條帶、模塊等多種封裝
  > 各路讀卡器采用隔離設(shè)計，可快速定位失效的讀卡器電路位置并檢測信號
  > 各路讀卡器單獨供電，可通過獨立開關(guān)控制每路讀卡器的工作狀態(tài)
  > 讀卡器輸出電壓范圍1.6V~5.5V，精度±10mV
  > 讀卡器輸出頻率可調(diào)，zui高可達36MHz
  > 各路讀卡器設(shè)有自動過流、過熱，過壓保護裝置