ITC57300動態參數測試系統主機可執行非破壞性的瞬態測量測試,包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管(IGBT),功率MOSFET,二極管,雙極型器件的測試頭。主機包括所有測試設備和必要的軟件分析,可執行電阻和電感的開關時間,開關損耗,柵極電荷,TRR /的Qrr和其他瞬態測試。
能力 - 測試電壓:1200 VDC 200(短路電流可達1000A)
- 定時測量:為1 ns
- 漏電流限制監視器
選項 測試頭 - ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET,MIL-STD-750方法3472開關時間
- ITC57220 - TRR /電源,MOSFET和二極管的Qrr,MIL-STD-750方法,3473
- ITC57230 - 柵極電荷功率MOSFET,MIL-STD-750方法3471
- ITC57240 - 電感式開關時間為IGBT,MIL-STD 750方法3477
- ITC57250 - (ISC)短路耐受時間,MIL-STD-750方法3479
系統特點 - 很容易改變的測試頭
- 在不同參數的自動化測試
- 堅固耐用的PC兼容計算機
- 用戶友好的菜單驅動軟件
- 可編程測試出紙槽
- 電子表格兼容的測試數據
- 可選內部電感負載
- GPIB可編程測試設備
- 四通道高帶寬數字示波器
- 脈沖發生器
- 1200V電源
安全特性 - 測試頭高電壓互鎖
- 接收端的高電壓互鎖
- 高速漏極供電開關