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顆粒表征

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更新時間：2024-05-24 09:03:05瀏覽次數：183次

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珠海真理光學儀器有限公司

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產品簡介

珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發和生產，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經驗和工作成就的精英人才，其專業涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發、產品制造、技術支持和商業運營服務

詳細介紹

    珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發和生產，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經驗和工作成就的精英人才，其專業涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發、產品制造、技術支持和商業運營服務。

    真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用開發的經驗，曾研發出一臺商用激光粒度分析儀。LT3600系列和LT2200系列是真理光學基于多年的科研成果并融合多項技術開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統，為激光粒度分析行業樹立了新。LT3600系列和LT2200系列粒度儀被廣泛用于磨料，制藥，化工，電池材料，地質，水文等行業的顆粒粒度表征分析。NanolinkS900是真理光學基于動態光散射原理研發的新一代高速納米粒度分析系統，被廣泛應用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠束、病毒抗體、蛋白質等樣品的顆粒表征。多年的科學研究和激光衍射技術創新成果，為測量和分析高速噴霧的粒度奠定了基礎。噴霧顆粒的高速運動，粒徑范圍寬及霧場的不規則，要求噴霧粒度分析系統具有高的適應性和高速衍射信號的處理能力。Spraylink超高速實時噴霧粒度分析儀專為應對這些挑戰而設計，以實現對噴霧粒度進行準確的分析。

    從納米到微米，從固體顆粒到乳液、噴霧，真理光學始終致力于為客戶提供全面的顆粒表征和應用技術方案！

測量原理	激光衍射
粒徑范圍光學模型工作范圍濃度范圍檢測系統光源激光安全光學對中系統數據采集速率測量速度	0.1μm -2080μm，無需更換透鏡米氏理論，包括高濃度補償技術 0.3μm時為150mm，7μm時為1800mm 遮光度：90%（取決于粒徑范圍） 38單元非均勻交叉及面積補償的檢測器陣列波長638nm，20mW集成恒溫及偏振空間濾波的高穩定固體激光器組件 3B級激光產品智能全自動 10kHz，連續可調每秒10000次
準確度	Dv50優于+/-0.5% (NIST 可溯源乳膠標樣)
重復性測量觸發方式外部設備同步	Dv50優于+/-0.5% (NIST 可溯源乳膠標樣) 內部：透光率或光衍射信號；外部：TTL電平輸入或開關觸發 TTL觸發輸出
軟件
計算機要求	Intel i5處理器，8G內存，250G硬盤，鼠標、鍵盤和19英寸平板顯示器、 USB2.0或以上接口
操作平臺	Windows 7 或以上專業版
操作環境
密封等級	IP65（適用于發射和接受系統）
溫度/濕度	5℃-40℃，＜85%，無冷凝
電源要求重量和尺寸	交流220V, 50/60Hz，標準接地

主機系統重量	28kg
主機尺寸（含光學導軌）	1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)