樹脂云母表面電阻率測定儀 概述
本儀器既可測量高電阻,又可測微電流。采用了美國Intel公司的大規模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準確度高。以雙3.1/2 位數字直接顯示電阻的高阻計和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內測量范圍 寬,準確度 高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機內測試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便, 適用于防靜電產品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外,還能直接測量微弱電流。
樹脂云母表面電阻率測定儀 標準配置:
1、測試儀器:1臺
2、電源線:1條
3、測量線:3根(屏蔽線、測試接線、接地線)
4、使用說明書:1份
使用方法
6.1接好電源線
確保電源為220VAC/50Hz
6.2接通電源
將電流電阻量程置于 104 檔,電壓量程置于10V,然后開機。
6.3調零
在“Rx"兩端開路的情況下,調零使電流表的顯示為0000 .注意:在“Rx"兩端不開路,如接在電阻箱或被測量物體上時調零后測量會產生很大的誤差。一般一次調零后在測試過程中不需再調零。 完畢后關機。
6.4連接線路
接好測試線,將測試線將主機與屏蔽箱連接好,測體積電阻時測試按鈕撥到Rv邊,測表面電阻時測試按鈕撥到Rs邊。然后開機。
6.5選擇合適的測量電壓
★電壓選擇開關在后面板,注意,在測試過程中不要隨意改動測量電壓,可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器;
6.6測試
測量時從低檔位逐漸拔往高檔,每撥一次稍停留1~2秒以使觀察顯示數字, 當被測電阻大于儀器測量量程時,電阻表顯示“1",此時應繼續將儀器撥到量程更高的位置,當測量儀器有顯示值時應停下,當前的數字乘以檔次即是被測電阻值。當有顯示數字時不要再往更高次檔撥,否測儀器會過量程,機內保護電路開始工作,儀器測量準確度會下降。
6.7 測試完畢將電阻電流量程拔至“104 "檔,電壓量程調至10V后關閉電源
★每測量一次均應將量程開關撥回到104“調零"檔的量程位置以免開機或測量端短路時而損壞儀器。
6.8 測量電流及1015Ω以上超高電阻的測量應用測量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計算電阻的方法,詳見8.5節內容。
6.9 體積電阻和表面電阻轉換
★在測試過程中,使用屏蔽箱在進行體積電阻和表面電阻轉換時,必須把電源關閉后進行檔位轉換,否則會導致電壓沖擊到主機無法顯示或損壞。

什么是電阻率:
電阻率是用來表示各種物質電阻特性的物理量。某種物質所制成的原件(常溫下20°C)的電阻與橫截面積的乘積與長度的比值叫做這種物質的電阻率。電阻率與導體的長度、橫截面積等因素無關,是導體材料本身的電學性質,由導體的材料決定,且與溫度、壓力、磁場等外界因素有關。
電阻率在國際單位制中的單位是Ω·m,讀作歐姆米,簡稱歐米。常用單位為“歐姆·厘米"。
主要應用范圍
材料高阻測試測量如防靜電產品(防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等)電阻值的檢測;
材料體電阻(率)和表面電阻(率)測量;
電化學和材料測試,以及物理,光學和材料研究;
微弱電流測量如光電效應和器件暗電流測量。
電阻率的計算公式為:
ρL
R= —
S
ρ為電阻率——常用單位Ω·mm2/m
S為橫截面積——常用單位㎡
R為電阻值——常用單位Ω
L為導線的長度——常用單位m

電阻定律
導體的電阻R跟它的長度L、電阻率ρ成正比,跟它的橫截面積S成反比,這個規律就叫電阻定律(law of resistance),公式為R=ρL/S 。其中ρ:制成電阻的材料的電阻率,L:繞制成電阻的導線長度,S:繞制成電阻的導線橫截面積,R:電阻值。
公式:R=ρL/S,R=U/I
ρ——制成電阻的材料電阻率,國際單位制為歐姆 · 米(Ω · m) ;
L——繞制成電阻的導線長度,國際單位制為米(m);
S——繞制成電阻的導線橫截面積,國際單位制為平方米(m2) ;
R——電阻值,國際單位制為歐姆,簡稱歐(Ω);
U——電壓值,國際單位制為伏特,簡稱伏(v);
I——電流值,國際單位制為安培,簡稱安(A)。
其中:
ρ叫電阻率:某種材料制成的長1米、橫截面積是1平方毫米的導線的電阻,叫做這種材料的電阻率。是描述材料性質的物理量。國際單位制中,電阻率的單位是歐姆·米,常用單位是歐姆·平方毫米/米。與導體長度L,橫截面積S無關,只與物體的材料和溫度有關,有些材料的電阻率隨著溫度的升高而增大,有些反之。
溫度影響
溫度對不同物質的電阻值均有不同的影晌。
導電體 在接近室溫的溫度,良導體的電阻值,通常與溫度成線性關系:
ρ=ρ0(1+αt)
上式中的 a 稱為電阻的溫度系數。
未經摻雜的半導體的電阻隨溫度升高而下降:
有摻雜的半導體變化較為復雜。當溫度從 零度上升,半導體的電阻先是減少,到了絕大部分的帶電粒子 (電子或電洞/空穴) 離開了它們的載體后,電阻會因帶電粒子的活動力下降而隨溫度稍為上升。當溫度升得更高,半導體會產生新的載體 (和未經摻雜的半導體一樣) ,原有的載體 (因滲雜而產生者) 重要性下降,于是電阻會再度下降。
絕緣體和電解質 絕緣體和電解質的電阻與溫度的關系一般不成比例,而且不同物質有不同的變化,故不在此列出概括性的算式。
技術指標
1. 電阻測量范圍: 1×104Ω ~1×1018Ω,分為十個量程。
2. 電流測量范圍為2×10-4A ~1×10-16A
3. 全數字液晶屏顯示。
4. 準確度: 準確度優于下表
量程 有效顯示范圍 20~30℃ RH<80%
104 0.01~19.99 5%
105 0.01~19.99 5%
106 0.01~19.99 5%
107 0.01~19.99 5%
108 0.01~19.99 5%
109 0.01~19.99 5%
1010 0.01~19.99 5%+2字
1011 0.01~19.99 5%+2字
1012 0.01~19.99 5%+5字
1013 0.01~19.99 10%+5字
1014 0.01~19.99 10%+5字
1014以上 0.01~19.99 10-15%+5字
超出有效顯示范圍時誤差有可能增加,測試電流準確度與電阻相同,測試電壓準確度為 10%
5. 使用環境: 溫度 -10℃~50℃ 相對濕度<90%。
6. 測試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7. 供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約10W。
8. 儀器尺寸: 300mm× 280mm× 150 mm。
9. 質量: 約3.0KG。

三電極接線說明
測量電阻可用二電極,一個接高壓電極,另一個接電流電極就行了,儀器的地線用于屏蔽用,在測量高電阻時要與屏蔽箱的地相接以防干擾。測量低電阻時 可以不用。國家標準 GB1410《 固體絕緣材料絕緣體積電阻率和表面電阻率試驗方 法》中推薦一種三電極測量方法:
它是由三個獨立的電極組成:
1.中心為圓柱體,直徑為50mm, 標準中沒有規定高度,但一般是40mm
2.圓柱體外為一圓環,圓環內徑為60mm,外徑為80mm, 標準中沒有規定高度,但一般是40mm
3.底為一平板, 直徑為100mm的圓板. 標準中沒有規定厚度,但一般為5mm
如果使用這種三電極測量材料表面電阻或體積電阻,可以按下圖接線:
4.測表面電阻:(電流流過被測量物體表面時測得的電阻)
儀器高壓輸出(紅)接圓環電極
儀器電流輸入端(芯線)接圓柱電極
儀器地(黑,屏蔽線)接圓盤電極
5.測體積電阻:(電流流過被測量物體體內時測得的電阻)
儀器高壓輸出(紅)接圓盤電極
儀器電流輸入端(芯線)接圓柱電極
儀器地(黑,屏蔽線)接圓環電極
請將被測量材料放在圓盤電極上面,并且圓柱電極放在圓環電極的中間,先將屏蔽箱上的開關撥在中間0位置時,此時沒有高壓輸出,將屏蔽箱蓋好,然后再與儀器接線。
如果開關是在左邊的Rv位置時,測量的是體積電阻Rv,此時電壓加在底下的圓盤電極上,電流從圓盤電極經被測量材料體內流到柱電極。
如果開關是在右邊的Rs位置時,測量的是表面電阻Rs,此時圓環電極改變為電壓,圓盤電極為接線,電流從圓環電極經材料表面流到圓柱電極。
電極electrodes
電極是具有一定形狀、尺寸和結構的與被測試樣相接觸的導體。
注:絕緣電阻是加在與試樣相接觸的兩電極之間的直流電壓與通過兩電極的總電流之商。絕緣電阻取決于試樣的表面電阻和體積電阻.
電源
要求有很穩定的直流電壓源。這可用蓄電油或一個整流穩壓的電摞來提供。對電源的穩定度要求 是由電壓變化導致的電流變化與被測電流相比可忽略不計。
加到整個試樣上的試驗電壓通常規定為100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和15000 V。 常用的電壓是100V、500V和1000 V。
在某些情況下,試樣的電阻與施加電壓的極性有關
如果電阻是與極性有關的,則宜加以注明。取兩次電阻值的幾何平均值(對數算術平均值的反對 數)作為結果。
由于試樣電阻可能與電壓有依存關系,因此應在報告中注明試驗電壓值。

方法
測量高電阻常用的方法是直接法或比較法。
直接法是測量加在試樣上的直流電壓和流過它的電流(伏安法)而求得未知電阻。
比較法是確定電橋線路中試樣未知電阻與電阻器已知電阻之間的比值,或是在固定電壓下比較通過這兩種電阻的電流。
附錄A給出了描述這些原理的例子。
伏安法需要一適當精度的伏特表,但該方法的靈敏度和度主要取決于電流測量裝置的性能,該 裝置可以是一個檢流計或電子放大器或靜電計。
電橋法只需要一靈敏的電流檢測器作為零點指示器,測量度主要取決于已知的橋臂電阻器,這 些橋臂電阻應在寬的電阻值范圍內具有高的精密度和穩定性。
電流比較法的度取決于已知電阻器的度和電流測量裝置,包括與它相連的測量電阻器的 穩定度和線性度。只要電壓是恒定的,電流的確切數值并不重要。
對于不大于1011Ω的電阻,可以按照11.1用檢流計采用伏特計一安培計法來測定其體積電阻率。 對于較高的電阻,則推薦使用直流放大器或靜電計。
在電橋法中,不可能直接測量短路試樣中的電流(見11.1)。
利用電流測量裝置的方法可以自動記錄電流,以簡化穩態測試過程(見11.1)。
現己有測量高電阻的一些專門的線路和儀器。只要它們有足夠的度和穩定度,且在需要時能使試樣短路并在電化前測量電流者,均可使用。
試樣
7.1 體積電阻率
為測定體積電阻率,試樣的形狀不限,只要能允許使用第三電極來抵消表面效應引起的誤差即可。對于表面泄漏可忽略不計的試樣,測量體積電阻時可去掉保護,只要己證明去掉保護對結果的影響可忽 略不計。
在被保護電極與保護電極之間的試樣表面上的間隙要有均勻的寬度,并且在表面泄漏不致于引起 測量誤差的條件下間隙應盡可能的窄。lmm的間隙通常為切實可行的 小間隙。
圖2及圖3給出了三電極裝置的例子。在測量體積電阻時,電極1是被保護電極,電極2為保護電 極,電極3為不保護電極。被保護電極的直徑d1(圖2)或長度l1(圖3)應至少為試樣厚度h的10倍,通 常至少為25mm。不保護電極的直徑d4(或長度[4)和保護電極的外直徑d3(或保護電極兩外邊緣之間 的長度[3)應該等于保護電極的內徑d2(或保護電極兩內邊緣之間的長度lz)加上至少2倍的試樣厚度。
7.2 表面電阻率
為測定表面電阻率,試樣的形狀不限,只要允許使用第三電極來抵消體積效應引起的誤差即可。推薦使用圖2及圖3所示的三電極裝置。用電極1作為被保護電極,電極3作為保護電極,電極2作為不 保護電極。可直接測量電極1和2之間表面間隙的電阻。這樣測得的電阻包括了電極1和2之間的表面電阻和這兩個電極間的體積電阻。然而,對于很寬范圍的環境條件和材料性能,當電極尺寸合適時, 體積電阻的影響可忽略不計。為此,對于圖2和圖3所示的裝置,電極的間隙寬度g至少應為試樣厚度 的2倍,一般說來,1mm為切實可行的 小間隙。被保護電極尺寸d1(或長度l1)應至少為試樣厚度h 的10倍,通常至少為25mm。
也可以使用條形電極或具有合適尺寸的其他裝置。
注:由于通過試樣內層的電流的影響,表面電阻率的計算值與試樣和電極的尺寸有很大的關系,因此,為了測定時可進行比較,推薦使用與圖2所示的電極裝置的尺寸相一致的試樣,其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,
試樣處置
電極之間或測量電極與大地之間的雜散電流對于測試儀器的讀數沒有明顯的影響這一點很重要。 測試時加電極到試樣上和安放試樣時均要極為小心,以免可能產生對測試結果有不良影響的雜散電流通道。
測量表面電阻時,不要清洗表面,除非另有協議或規定。 除了同二材料的另 一個試樣的未被觸模過 的表面可觸及被測試樣外,表面被測部分不應被任何東西觸及。