一、儀器介紹
XPH-600系列偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器。
偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。該設(shè)備采用微電腦檢測，有自動PID調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值，儀表顯示準確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制可設(shè)定程序，設(shè)有“上、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設(shè)定的溫度數(shù)據(jù)，是新一代熔點測溫、控溫裝置。
偏光顯微鏡配置石膏λ片、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺附件。偏光熔點測試儀具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印，是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品。
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二、技術(shù)參數(shù)：
1.目鏡：
| 類別 | 放大倍數(shù) | 視場（mm） |
| 網(wǎng)格目鏡 | 10X | φ18 |
| 十字目鏡 | 10X（選） | φ18 |
2.物鏡：
| 類 別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑（NA） | 工作距離（mm） | 蓋玻片厚度（mm） |
| 無應力平場
消色差物鏡 | 4X | 0.10 | 7.80 | — |
| 10X | 0.25 | 4.70 | — |
| 25X（選） | 0.40 | 1.75 | 0.17 |
| 40X | 0.60 | 0.72 | 0.17 |
| 60X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.光學放大倍數(shù)：40X-600X
系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°內(nèi)置勃氏鏡，中心、焦距可調(diào)
7.補償器：λ片(φ18mm，一級紅，光程差551nm)
λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊的同軸粗微調(diào)，微調(diào)格值0.002mm
9.照明系統(tǒng)：6V/20W鹵素燈（亮度可調(diào)）
三、系統(tǒng)簡介
偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術(shù)、的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計算機圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。本儀器可在顯示屏上方便地觀察實時圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存。
四、熱臺介紹
1.顯微精密控溫儀
在20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定，30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時間，升溫速率可調(diào)、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù)。
2.顯微加熱平臺
1）可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于±0.1℃
2）起始溫度為室溫；
3）工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm；
4）工作區(qū)溫度梯度不超過±0.1℃
5）透光區(qū)域2mm以上，可調(diào)
6）顯示溫度與實際溫度誤差為±0.2℃，熱臺可隨載物臺移動
7）熔點測定溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，因為高溫的影響容易損壞鏡頭建議請選用長工作距離的20X、40X 物鏡
五、系統(tǒng)組成
電腦型偏光熔點檢測儀（XPH-600P）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、彩色攝像器 4、A/D圖像采集卡 5、計算機
數(shù)碼型偏光熔點檢測儀（XPH-600D）：
1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數(shù)碼相機系統(tǒng)
六、選購件
1、高像素成像系統(tǒng) 2. 偏光顯微鏡分析軟件
