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葉片測量系統

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更新時間：2024-05-04 16:50:38瀏覽次數：96次

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產品簡介

葉片測量系統

詳細介紹

CORE-DS光學高速多軸測量系統是專為葉片測量量身定制的解決方案。CORE-DS光學高速多軸測量系統使用新一代白光測頭取代了傳統接觸式測頭，克服了接觸式測頭在測量葉片時的固有弱點，為葉片測量技術開拓出一片全新領域。CORE-DS光學高速多軸測量系統使用的光學測頭應用了創新的白光點光源進行數據采集，直徑小至9um的光點可以檢測到零件表面最細小的幾何特征。光學測頭的應用也*避免了接觸式測頭容易產生的半徑補償錯誤。

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