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捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀

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更新時間：2024-05-19 16:25:31瀏覽次數：101次

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產品簡介

捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC...

詳細介紹

捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。

日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是下一代能多種需求的強力分析工具之一。

捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀的EPMA快速啟動點擊任何一點，就能開始預設的EDS定性、定量分析或WDS分析。

檢測元素范圍	WDS：(Be) /B～U, EDS：B～U
X射線檢測范圍	WDS檢測的波長范圍: 0.087～9.3nm, EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV
分光譜儀數量	WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺
樣品尺寸	100mm × 100mm × 50mm（H）
加速電壓	0～30kV（以0.1 kV為步長）
束流電流范圍	10^-12 ～ 10^-5 A
束流電流穩定度	5%/h, ±0.3%/12h（W）
二次電子分辨率	6nm（W）, 5nm（LaB₆）（W.D. 11mm, 30kV）
掃描倍率	×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）
掃描圖像分辨率	5,120× 3,840
彩色顯示器	EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024
光學顯微鏡
分辨率	～1um
焦深	1um
真空系統	機械泵、分子泵、離子泵
真空度	樣品室: 優于8.0 x 10^-4Pa, 電子槍: 優于9.0 x 10^-5Pa