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重慶賽恩斯儀器有限公司
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特點： 1.本儀器采用非接觸、光學相移干涉測量方法，測量時不損傷工件表面，能快速測得各種工件表 面微觀形貌的立體圖形，并分析計算出測量結果。適用于測量各種量塊、光學零件表面的粗糙度； 標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表 面結構測量；硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。 2.由于儀器測量精度高，具有非接觸和三維測量的特點，并采用計算機控制和快速分析、計算測量 結果，本儀器適用于各級測試、計量研究單位工礦企業計量室，加工車間，也適用于高等院校和 科學研究單位等。
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