BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀 BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀 關鍵詞:熱電,Seebeck系數,電導率,電阻率,n或p型熱電材料π對熱電轉換效 產品介紹: BKTEM-Dx熱電性能分析系統是一款自動化熱電賽貝克系數測試儀,該儀器實現了一體化設計, 無需手動,電腦軟件上可以直接抽真空,設置溫度,只要將樣品裝上之后,實現一鍵式的測量, 電阻率及各個表格能夠直觀出現. 對于熱電材料的研究,熱電性能測試是的試驗數據。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下: 該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。 一、測試原理 原理:(1)通過測量派對或器件開路電壓和短路電流求得派對或器件的輸出功率。(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計測量通過熱電派對或器件的熱流量,其溫差電熱流量計的工作原理是:當對溫差電制冷片通電時,其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經過校準的通過熱量計的高低溫端工作溫度--制冷量關系方程式求出不同溫度梯度下流經溫差電熱流計的熱流量,即為通過派對或器件的熱流。(3)將輸出功率與通過的熱流相比求得轉換效率。 一、適用范圍: 1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對與器件的熱電轉換效率測試,用于精確測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉換效率。(國內) 2、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。 3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。 4、擁有自身分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。 二、技術特點: ·解決高溫下溫控精度不準的問題,更加直觀的了解產品熱電材料的真正物理屬性。 ·熱電材料π對與器件的熱電轉換效率測試,用于精確測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉換效率。 · 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。 ·試樣采用的焊偶機構,保證接觸電阻最小以及測量結果的高重現性。 · 每次可測試1-3個樣品. · 采用高級數據采集技術,避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。 · 具備真空和Ar氣保護兩種工況選項。 四、主要技術參數: | BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 | 測量溫度 | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 同時測試樣品數量 | 1個 | 2個 | 3個 | 控溫精度 | 0.5K(溫度波動:≤±0.1℃) | 熱流量測量 | 采用溫差電熱流計測量流經試樣卻沒有被轉換的熱流 | 測量原理 | 塞貝克系數:靜態直流電;電阻系數:四端法 | 測量范圍 | 塞貝克系數:0.5μV/K_25V/K;電阻系數:0.2Ohm-2.5KOhm | 分辨率 | 塞貝克系數:10nV/K;電阻系數: 10nOhm | 測量精度 | 塞貝克系數:<±6%;電阻系數:<±5% | 樣品尺寸 | 方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長 | 熱電偶導距 | ≥6 mm | 電 流 | 0 to 160 mA | 氣 氛 | 減壓He(具備真空和Ar氣保護兩種工況選項,真空工況下,真空度:≤6×10-2 Pa;) | 加熱電極相數/電壓 | 單相,220V, | 熱電轉換效率輸出功率 | 0.01W~10W | 夾具接觸熱阻 | ≤0.05 m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理 | 圖1 單一樣品測試系統原理示意圖 圖2 雙樣品測試系統原理示意圖 |