植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當?shù)刈游缇€的夾角。

詳細介紹

植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)

測量時根據(jù)果園的大小。分別設(shè)置3-5個測量點，在每個測量點再分別用方框取樣法和冠層分析法測量葉面積指數(shù)。方框取樣法是將方框隨機放在樹冠上，將方框內(nèi)的的葉片全部摘下，用葉面積儀測量框內(nèi)的葉面積，然后根據(jù)樹冠體積和栽植密度計算葉面積指數(shù)。測點的選擇與冠層分析儀方法相同。冠層分析儀是分別對應(yīng)測量天空5個范圍的散射輻射，這5個范圍的中心視天頂角分別為7°、23°、38°、53°和68°，分別與冠層上部和下部測量輻射通透密度，并根據(jù)轉(zhuǎn)換模型估算葉面積指數(shù)。在每一個測點的冠層頂部測一次，下部重復(fù)測量6-10次，冠層下方的測量在同一水平面上，且在無直接輻射的條件下進行。為了避免光環(huán)境迅速的變化對測量結(jié)果的影響，選擇無直接輻射的條件下進行，然后用冠層分析儀附帶的軟件對測量的資料進一步加工以校正估值葉面積指數(shù)。

植物冠層分析儀特點

兩輪設(shè)計便于野外快速、輕松獲取數(shù)據(jù)

用戶友好接口、適合大區(qū)實驗

多角度測量降低直接光照影響

GPS和羅盤精確定位測量

植物冠層分析儀優(yōu)勢

1、Airphen植物冠層分析儀配有6個波段：450-900nm（450nm，530nm，570nm，675nm，730nm，850nm），可測量多達幾十種植被指數(shù)；采用雙視場角設(shè)計，極大提升了科研調(diào)查效率，而上其他品牌的產(chǎn)品不具備雙視場角，調(diào)查效率是很有限的。

2、Airphen植物冠層分析儀具有的強大的散熱系統(tǒng)能保證產(chǎn)品在運行過程中的穩(wěn)定性，而其他品牌不具備強大的散熱系統(tǒng)，所以其產(chǎn)品的運行穩(wěn)定性是有待考量的。

3、Airphen植物冠層分析儀專門針對大疆無人機開發(fā)了云臺，可保護相機系統(tǒng)的安全使用以及減少相機拍攝的晃動。

4、Airphen植物冠層分析儀可集成同步RGB相機和熱成像相機，解決了紅外成像無法精確定位的難題，所獲得數(shù)據(jù)可用于數(shù)字高程等系列研究，應(yīng)用于近地遙感地理勘測、環(huán)境調(diào)查、農(nóng)業(yè)表型、精準農(nóng)業(yè)、生態(tài)研究等領(lǐng)域。

5、針對Airphen植物冠層分析儀系統(tǒng)在Agisoft的基礎(chǔ)上開發(fā)了的圖像處理插件，使后期的圖像處理更加簡單化，其他品牌是不具備的。

6、通過連接手機進入控制客戶端，操作簡單方便，后期的圖像數(shù)據(jù)處理在云端處理器完成，無須軟件操作就可得到想要的數(shù)據(jù)。

7、我們的多光譜相機配套的參考板材質(zhì)不怕磨損，不屬于易損耗品，而其他品牌的參考板均屬于易耗品，增加了后期使用過程中的成本。

植物冠層分析儀介紹

植物冠層分析儀就是屬于光學法的，特點是攜帶方便，不需要進行額外的資料處理，可以直接給出葉面積指數(shù)值，原理是在假定植物冠層內(nèi)的各元素隨機分布，依據(jù)冠層間隙度或光學特性反演葉面積指數(shù)。缺點是測量所得葉面積指數(shù)有著較大的偏差。葉片的聚集效應(yīng)越強，偏差越大。因此在測量時，一般需要用直接法校正。