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上海精密儀器儀表有限公司
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JXD-B讀數顯微鏡
1.長度測量。如測量孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等。
2.讀數顯微鏡 JXB-D 可在不同方向上測量，擴大了顯微鏡使用范圍。
3.可判別礦石標本，檢查印刷照像底板。由于測量架能脫開底座，可固定在機床上直接對加工零件進行檢查。所以該儀器廣泛應用作觀察顯微鏡在機械、冶金、光學、科研等單位的檢查室、實驗室和車間
產品特點
光學計量儀器之一，它的結構簡單，操作方便，應用范圍很廣
技術參數
型號 | JXD-B | JXD-250A | |
鏡筒 | 單目 | ||
目鏡 | 10X(帶十字分化，焦距25) | ||
物鏡 | 3X | 工作距離：47.48 | |
視場直徑: 6.3 | |||
焦 距：36.34 | |||
8X（選購） | 工作距離：9.49 | ||
視場直徑: 2.2 | |||
焦 距：19.8 | |||
總放大倍數 | 30X （標配） 80X（選購） | ||
測量范圍 | 0-50MM | 0-250MM | |
測微鼓輪值 | 0.01MM | ||
測量精度 | 0．015MM | ||
光源 | 無(可選購) | ||
測量臺與物鏡間距離 | 3X不小于150MM/8X不小于130MM | ||
選購件：CCD適配鏡II型，CCD適配鏡III型，
數碼攝像頭30萬，130萬，300萬等
數碼相機拍照系統
顯微圖像處理軟件（測量軟件）
顆粒分析軟件等
JXD-250A(數顯式)讀數顯微鏡
JXD-250A/JXD-250B型(數顯式)讀數顯微鏡可做X、Y方向的長度測量。主要用于測量光譜板和線紋尺的線性距離、等厚干涉牛頓環以及其它長度距離的測量。是高等院校物理實驗、企事業單位計量部門的專用儀器
技術參數
型號 | JXD-250A | JXD-250B |
測量范圍 | 0-250mm | 0-250mm |
刻尺格值 | 1mm | |
鼓輪分劃值 | 0.01mm | |
顯微鏡放大倍數 | 30× | 30× |
顯微鏡工作距離 | 47.5mm | 47.5mm |
儀器測量誤差 | 1mm范圍內≤0.01mm;250mm范圍內≤0.1mm 1臺 | 250mm范圍內≤0.05mm |
儀器重量 | 10公斤 |
|
儀器外形尺寸 | 420×150×200mm |
|
分辨率 |
| 0.01mm |
顯示方式 |
| 5位數顯示 |
電源 |
| 一個1.5V氧化銀鈕扣電池SR44 |
環境濕度 |
| 0～40℃ |
JXD-B
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