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產品型號NanoCalc
品 牌
廠商性質其他
所 在 地深圳市
聯系方式:呂先生查看聯系方式
更新時間:2025-03-21 09:27:58瀏覽次數:36次
產品分類 品牌分類
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經營模式:其他
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所在地區:
聯系人:呂先生
薄膜的光學特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統可以用來進行10nm~250µm的膜厚分析測量,對單層...
NanoCalc 薄膜反射測量系統
薄膜的光學特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統可以用來進行10nm~250µm的膜厚分析測量,對單層膜的分辨率為0.1nm。根據測量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。
的兩種測量薄膜的特性的方法為光學反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進行膜厚測量。
技術參數
入射角
90°
層數
3層以下
需要進行參考值測量
是
透明材料
傳輸模式
粗糙材料
測量速度
100ms - 1s
在線監測
可以
公差(高度)
參考值測量或準直(74-UV)
公差(角度)
參考值測量
微黑子選項
配顯微鏡
顯示選項
定位選項
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