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閱讀：2發(fā)布時(shí)間：2025-3-21
用LCR測(cè)試儀來(lái)測(cè)量零部件的參數(shù)時(shí)，其關(guān)鍵問(wèn)題在于測(cè)量誤差。首先是LCR測(cè)試儀本身的內(nèi)部誤差，還存在各種各樣的原因，而與試樣的
連接所引起的誤差，就是其中之一。
對(duì)電流電壓變換部分進(jìn)行控制，由此使試樣一端(Lp端子對(duì))的電壓接近于零。即使Lc端子對(duì)上的電壓也接近于零，但是由于電流的去路與歸路相互重疊，所以也能抑制電磁感應(yīng)的影響。
由于LCR測(cè)試儀的型號(hào)不同，其連接方法也會(huì)有不同，在此整理出五種連接方法的各自特點(diǎn)。一般情況，連接方法越麻煩，越能準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)量。
LCR測(cè)試儀對(duì)測(cè)試電纜和試樣進(jìn)行屏蔽，通過(guò)抑制雜散電容，減少對(duì)于高阻抗零部件的測(cè)量誤差。主要可用于測(cè)量較小的電容量。
對(duì)于交流阻抗的測(cè)量，與直流測(cè)量不同，其特點(diǎn)不會(huì)受到溫差電動(dòng)勢(shì)的影響。但是，由于電流電纜與電壓電纜之間的電磁感應(yīng)，測(cè)量的頻率越高，要想測(cè)量低阻抗就越困難。對(duì)于這個(gè)問(wèn)題，可以利用電纜的屏蔽層，使電流的去路和歸路相互重疊，以抑制磁通量的產(chǎn)生，由此來(lái)減少由于電磁感立所引起的殘留阻抗。
設(shè)置獨(dú)立的電壓檢測(cè)電纜，以消除由于測(cè)試電纜的串聯(lián)阻抗所引起的電壓降和接地電阻的影響等，是一種減少低阻抗零部件的測(cè)量誤差的方
法。LCR測(cè)試儀需要考慮由于電纜之間的互電感(M)所產(chǎn)生的影響。如果使用在一個(gè)夾子上有2個(gè)相互絕緣的電極的開(kāi)耳芬?jiàn)A子，那么用2個(gè)夾子可以容易地進(jìn)行4個(gè)端子的連接。
雖然連接容易，但是由于接觸電阻、連接電纜的串聯(lián)阻抗(r)、連接電纜以及端子之間的雜散電容(Cs)會(huì)引起較大的誤差，如果不是中等數(shù)量級(jí)的阻抗，那么測(cè)量誤差就會(huì)比較大。
LCR測(cè)試儀產(chǎn)品大全：products.asp?sid=40&bid=11
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