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上海雋思實驗儀器有限公司
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高低溫沖擊試驗箱
高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機簡介：
高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機主要用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑料等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,通過測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的質量,從精密的IC到重機械的組件，作為其產品改進的依據或參考。以便考核試品的適應性或對試品的行為作出改進、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機技術性能：
測試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備
高溫室
預溫度范圍：RT～+200℃
升溫時間：RT+10℃→+200℃ ≤40min
低溫室
預冷溫度范圍：RT~-70℃
降溫時間：RT → -70℃≤60min
試驗室（試樣區）
試驗方式：氣動風門切換
溫區沖擊試驗條件：高溫-常溫-低溫
溫度沖擊范圍：-55℃～ +80℃
溫度波動度：±0.5℃
溫度偏差：±2.0℃
溫度恢復時間：≤5min
恢復條件
試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風側
高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘
環境溫度曝露：常溫
低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘
試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請提前告知）
制冷方式：風冷、水冷
高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機滿足標準：
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
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