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X熒光光譜儀

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更新時間：2022-06-28 15:36:41瀏覽次數：409次

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產品簡介

X熒光光譜儀能量色散 X 熒光光譜儀 XTU-50 鍍層膜厚分析儀目錄一、產品型號 1.1 產品型號二、儀器介紹 2.1 儀器概述 2.2 性能優(yōu)勢 2.3 技術指標三、儀器硬件主體配置 3.1 設備外觀 3.1 探測系統(tǒng) 3

詳細介紹

能量色散X熒光光譜儀

XTU-50 鍍層膜厚分析儀

目錄

一、產品型號
1.1 產品型號
二、儀器介紹
2.1 儀器概述
2.2 性能優(yōu)勢
2.3 技術指標
三、儀器硬件主體配置
3.1 設備外觀
3.1 探測系統(tǒng)
3.2 X光管
3.3 高壓電源
3.4 微動平臺
3.5 高分辨率CCD
3.6 散熱系統(tǒng)
3.7 防輻射安全系統(tǒng)
四、儀器軟件配置
4.1 軟件界面
4.2 功能特點
五、儀器的外圍設備
5.1 計算機
5.2 噴墨打印機
5.2 儀器相關配件及技術資料
六、技術支持及售后服務

一、產品型號

儀器型號	探測器	X光管	高壓電源
XTU-50	AMPTEK SDD型(美國進口)	美國瓦里安公司進口	Spellman(美國進口)

二、儀器簡介

2.1 儀器概述

XTU-50鍍層膜厚分析專用X射線熒光光譜儀是公司經過3年研發(fā)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統(tǒng)；人性化操作界面；的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

2.2 性能優(yōu)勢

1.的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行精準測試
2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量，開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術
3.軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度
4.業(yè)內提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線
5.三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害
6.儀器外部對樣品微調設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性
7.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求
8.家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用
9.軟件對多次測試結果進行統(tǒng)計分析功能
10.家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF

2.3 儀器技術指標

1、儀器尺寸：550(W)x480(D)x470(H)mm
2、樣品腔尺寸：500*360*215mm；
3、檢測厚度：0.005um
4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定）
5、最多測試層數：10層
6、最小測量面積：0.002mm
7、分辨率：見下面探測系統(tǒng)詳細參數說明
8、準直器：Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片：5種濾光片自動切換
10、CCD觀察：260萬像素高清CCD
11、樣品微動范圍：XY50mm
12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz
13、額定功率：350W
14、重量：約45Kg
15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃
16、工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結露）
17、穩(wěn)定性:多次測量重復性誤差小于0.1%

三、儀器硬件主體配置

3.1 設備外觀

3.2 探測系統(tǒng)
	類型：AMPTEK SDD(整套原裝美國進口) Be窗：1mil(0.0254mm) 分辨率：129±5eV 系統(tǒng)峰背比：≥ 6200/1 能量響應范圍：1keV — 40keV 推薦計數率：50000cps
3.3 X光管
	型號：美國瓦里安電壓: 0 ~ 50 kV 電流: 1.0 mA 功率: 50 W 燈絲電壓: 2.0V 燈絲電流: 1.7 A 射線取出角：12° 靶材：Mo Be窗厚度：400um
3.4 高壓電源
	型號：Spellman(美國) 輸入電壓: DC +24V±10% 輸入電流：4.0A（）輸出電壓: 0 -50KV & 1mA 功率：50W 電壓調整率：0.01% （從空載到滿載）電流調整率：0.01% （從空載到滿載）紋波系數：0.1% （P-P值） 8小時穩(wěn)定性：≤0.05%

3.5 微動平臺
	載物測試平臺，微調裝置在儀器外面，結合260萬像素的高清CCD，對測試樣品進行精確定位，防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致測試不準確；
3.6 高分辨率CCD
	260萬像素的高清CCD攝像頭，可有效的實時觀察測試區(qū)域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。
3.7 散熱系統(tǒng)
	高效三維散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的可靠性、穩(wěn)定性。

四、儀器軟件配置

4.1 儀器操作軟件功能

1、軟件界面

2、功能特點

1. 預置多條工作曲線，涵蓋銅基體、鐵基體、鋅基體等基體類型的常見鍍層，可滿足用戶常規(guī)鍍層測量的要求；
2. 華唯VisualFp基本參數法分析軟件，在分析鍍層厚度的同時分析基材及鍍層成分含量，實用價值大大超出客戶的想象空間；
3. 人性化的軟件界面與操作方法，使用圖形顯示技術，既方便又直觀；結合大量操作經驗優(yōu)化操作步驟，極大方便用戶；
4. 完善的安全連鎖功能：配合硬件電路的防護措施，在不安全的操作發(fā)生時自動切斷X射線確保操作員不受X射線傷害；
5. 數據管理：由數據庫支持的專業(yè)化報表生成、查詢打印等功能極大方便企業(yè)管理；
6. 智能化軟件保護，避免不當操作對光譜儀的損傷，延長儀器使用壽命；
7. 數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性；
8. 穩(wěn)定性自檢功能：可即時對儀器當前穩(wěn)定性進行自動檢測；
9. 軟件具有對多次測試結果的統(tǒng)計功能，極大地方便客戶數據管理。

五、儀器的外圍設備

5.1 儀器標配設備參數