IGBT測試難點:
1、由于IGBT是多端口器件,所以需要多個測量模塊協同測試。
2、IGBT的漏電流越小越好,所以需要高精度的設備進行測試。
3、IGBT動態電流范圍大,測試時需要量程范圍廣,且量程可以自動切換的模塊進行測試。
4、由于IGBT工作在強電流下,自加熱效應明顯,脈沖測試可以減少自加熱效應,所以MOSFET需要進行脈沖IV測試,用于評估期間的自加熱特性。
5、MOSFET的電容曲線是其特性表征的重要內容,且與其在高頻應用有密切關系。所以IGBT的電容測試非常重要。
6、IGBT開關特性非常重要,需要進行雙脈沖動態參數的測試。
那么IGBT器件靜態參數測試儀器需要哪些儀器呢?
E系列高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高(3000V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設備工作在D一象限,輸出及測量電壓0~3000V,輸出及測量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式,同時支持豐富的I-V掃描模式。
用于IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態測試母線電容充電電源、IGBT老化電源,防雷二極管耐壓測試,壓敏電阻耐壓測試等場合。其恒流模式對于快速測量擊穿點具有重大意義。

E300高壓源測單元
HCPL100型高電流脈沖電源為脈沖恒流源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(10uS)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。
設備可應用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合,使用該設備可以獨立完成“電流-導通電壓"掃描測試。

HCPL100高電流脈沖電源
P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態、數字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達10A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。P系列源表適用于各行各業使用者,特別適合現代半導體、納米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

P300脈沖源表
總之,IGBT器件靜態參數測試需要的儀器是一系列的,具體可以找生產廠家普賽斯儀表為您提供檢測方案哦!