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電弱點(diǎn)測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)HCRD-300

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更新時(shí)間：2022-05-04 11:20:03瀏覽次數(shù)：218次

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北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：547條

所在地區(qū)：北京北京市

聯(lián)系人：魏工（銷售）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過程中，會(huì)出現(xiàn)薄膜穿孔、導(dǎo)電顆粒積聚、劃傷等影響電氣性能的電弱點(diǎn)。根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜質(zhì)量的重要指標(biāo)。設(shè)計(jì)的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生產(chǎn)過程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電弱線"概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電流均超過1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線"，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這樣的測(cè)試數(shù)據(jù)更能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平，且有助于分析生產(chǎn)過程中存在的問題，從而有針對(duì)地提出解決問題的方案。

詳細(xì)介紹

電弱點(diǎn)測(cè)試儀

一、電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品介紹

華測(cè)生產(chǎn)的HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話的方式，是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。

二、電弱點(diǎn)測(cè)試儀性能特點(diǎn)

該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用進(jìn)口品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。如過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

三、電弱點(diǎn)測(cè)試儀設(shè)備參數(shù)

1、試驗(yàn)電壓：zui大5000V (AC/DC)：注：電氣薄膜弱點(diǎn)按每個(gè)um/V,來計(jì)算，在選型時(shí)設(shè)備zui大電壓不會(huì)超過400v/um。本試驗(yàn)儀器*超過使用量程。（我們的用戶主要有日新電機(jī)、廣州佛塑、中興材料等）

2、電壓測(cè)量精度：±1%

3、保護(hù)電流：0～40mA

4、輸入電壓：220V

5、有效測(cè)量范圍：0～5kV（AC/DC）

6、膜移動(dòng)速度：

7、3-10m/min 連續(xù)可調(diào)

8、樣品寬度： 60～650mm(可調(diào))

9、功率：1KW

四、電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要配件生產(chǎn)廠家

● 變壓器：武高所監(jiān)制

● 控制系統(tǒng)：德國西門子PLC

● 升壓系統(tǒng):spwm華測(cè)