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北京航天縱橫檢測儀器有限公司


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測試體積電阻率的檢測儀器

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產品型號體積電阻率測試儀

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更新時間:2019-03-21 22:08:01瀏覽次數:495次

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產品簡介

ZST-121測試體積電阻率的檢測儀器
電阻測量范圍寬 1×104Ω ~1×1018Ω
電流測量范圍為 2×10-4A ~1×10-16A
體積小、重量輕、準確度高
電阻、電流雙顯示
所有測試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試時電阻結果直讀,免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數等使用不便的麻煩,使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。

詳細介紹

符合標準:

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》

ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》

GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》

GB/T 1692-2008 《硫化橡膠 絕緣電阻率的測定》

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導電性能和耗散性能電阻率的測定》

GB/T 12703.4-2010 《紡織品 靜電性能的評定 第4部分:電阻率》

GB/T 10064-2006_《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》

GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》

EN 1149-1-1995 《* 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》

GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》(與標準IEC93-1980等效)

FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》

SJ/10694-2006《電子產品制造與應用系統防靜電檢測通用規范》6.1

ZST-121測試體積電阻率的檢測儀器

一、概述

ZST-121測試體積電阻率的檢測儀器既可測量高電阻,又可測微電流。采用了美國Intel公司的大規模集成電路,使儀器體積小、重量輕準確度高。數字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內測量范圍寬,準確度高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機內測試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便.     適用于橡膠、塑料、薄膜、地毯、織物及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。

二、主要特點

電阻測量范圍寬 1×104Ω ~1×1018Ω

電流測量范圍為 2×10-4A ~1×10-16A

體積小、重量輕、準確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩定、讀數方便

所有測試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試時電阻結果直讀,免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數等使用不便的麻煩,使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。既能測超高電阻又能測微電流

三、技術指標

1、電阻測量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。

2、電流測量范圍為: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示 方 式:數字液晶顯示

4、內置測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度:1% (*注)

6、使用環境: 溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%

7、機內測試電壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、儀器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm

10、質量: 約5KG

四、工作原理

根據歐姆定律,被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定,通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出,由于電流I是與電阻成反比,而不是成正比,所以電阻的顯示值是非線性的,即電阻無窮大時,電流為零,即表頭的零位處是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時,其電壓V也會有些變化,所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。

本儀器是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,通過內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算,然后把所得到的結果經過A/D轉換后以數字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流I的變而變,所以,即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發生變化對其結果影響不大,其測量精度很高(0),從理論上講其誤差可以做到零,而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

典型應用

1、測量絕緣材料電阻(率)

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3、測量計算機房用活動地板的系統電阻值

4、測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值

5、光電二極管暗電流測量

6、物理,光學和材料研究

標準配置:

1、測試儀器:1臺

2、電源線:1條

3、測量線:3根(屏蔽線、測試接線、接地線)

4、使用說明書:1份

備注:

本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導率,*符合國家標準GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法等標準要求。

 

3. 術語

3.1 定義:

3.1.1 以下定義直接來自術語標準D1711,適用于本標準正文所用術語。

3.1.2 絕緣電導,名詞——當直流電壓施加到兩個電極上,兩個電極(在樣本上或樣本內)之間的總體積和表面電流的比值。

3.1.2.1 討論——絕緣電導是絕緣電阻的倒數。

3.1.3 表面電導,名詞——當直流電壓施加到兩個電極上,兩個電極(在樣本上表面)之間的電流的比值。

3.1.3.1 討論——(實際測量不可避免地要包含某些體積電導)表面電導是表面電阻的倒數。

3.1.4 體積電導,名詞——當直流電壓施加到兩個電極上,兩個電極(在樣本上或樣本內)之間的某個樣本體積的電流的比值。

3.1.4.1 討論——體積電導是體積電阻的倒數。

3.1.5 表面電導,名詞——表面電導率乘以樣本表面尺寸(電極之間的距離除以電極寬度定義為電流通路)的比值,該比值可變換為獲得的測量電導,如果在正方形的反面形成電極的話。

3.1.5.1 討論——表面電導用西門子表示。通常用西門子/平方(平方值大小是不重要的)來表示。表面電導是表面電阻的倒數。

3.1.6 體積電導,名詞——體積電導乘以樣本體積尺寸的比值(即電極之間距離除以電極的橫截面面積),該值可通過獲得電導轉化為測量電導,如果在單位立方體的反面形成電極的話。

3.1.6.1 討論——體積電導通常用西門子/厘米或西門子/米來表示,也是體積電阻的倒數。

3.1.7 中等導電的,形容詞——描述了固體材料的體積電阻在1到10000000Ω-cm之間。

3.1.8 絕緣電阻(Ri),名詞——施加到兩個電極(樣本上或樣本內)總體積的直流電壓與電極間表面電流的比值。

3.1.8.1 討論——絕緣電阻是絕緣電導的倒數。

3.1.9 表面電阻(RS),名詞——施加到兩個電極(樣本表面)的直流電壓與電極間電流的比值。

3.1.9.1 討論——(在實際測量時不可避免地包含某些體積電阻)表面電阻是表面電導的倒數。

3.1.10 體積電阻(RV),名詞——施加到兩個電極(樣本上或里面)的直流電壓與電極間樣本體積上的電流的比值。

3.1.10.1 討論——體積電阻是體積電導的倒數。

3.1.11 表面電阻,(ρs),名詞——表面電阻率乘以樣本表面尺寸的比值(電極寬度定義為電流通路除以電極間的距離),該值能轉化為獲得的測量電阻,如果在正方形反面形成電極的話。

3.1.11.1 討論——表面電阻用歐姆表示。通常也可用歐姆/平方來表示(平方值大小是不重要的)。表面電阻是表面電導的倒數。

3.1.12 體積電阻,(ρv),名詞——體積電阻率乘以樣本體積尺寸的比值(電極間樣本的橫截面面積除以電極間的距離),該值能轉化為獲得電阻的測量電阻,如果在單位立方體的反面形成電極的話。

3.1.12.1 討論——體積電阻通常用歐姆-厘米(優選)或歐姆-米來表示。體積電阻是體積電導的倒數。

4. 試驗方法的摘要

4.1 材料樣本或電容器的電阻或電導通過在規定條件下測量電流或電壓下降而得出。通過使用合適的電極體系,可分別測量表面和體積電阻或電導。當要求的樣本和電極尺寸已知時,此時可以計算出電阻或電導。

5. 重要性和用途

5.1 絕緣材料用于電子系統彼此和與地面之間隔離,該材料能提供零部件的機械支撐。由于此用途,通常要求具有盡可能高的絕緣電阻,以與可接受的機械、化學和耐熱性能*。因為絕緣電阻或電導組合了體積和表面電阻或電導,當實際使用時,要求試驗樣本和電有相同的形式,此時的測量值是非常有用的。表面電阻或電導隨著濕度發生快速變化,然而體積電阻或電導則稍微變化,盡管總的變化在一些變化可能更大。

5.2 電阻或電導可用于間接預測某些材料的低頻率電介質擊穿和損耗因數性能。電阻或電導通常作為濕度含量,固化程度,機械連續性或不同類型老化的間接測量方式。這些間接測量的效用取決于通過理論或經驗研究確立的相關度。表面電阻的降低可導致因為電場強度降低而發生電介質擊穿電壓的增加,或者由于應力面積的增加而發生電介質擊穿電壓的降低。

5.3 所有的電介質電阻或電導都取決于電化時間長短和施加的電壓值(除了普通的環境變量之外)。這些因素必須已知,同時報告,以使得電阻或電導測量值有意義。在電絕緣材料工業中,形容詞“表觀”通常適用于在任意選擇電化時間條件下獲得的電阻值。見X1.4。

5.4 體積電阻或電導可通過在特定應用場合設計某個絕緣體使用的電阻和尺寸數據計算得出。研究已經表明電阻或電導隨著溫度和濕度的變化而變化(1,2,3,4)4,同時在設計工作條件時,必須已知這種變化。體積電阻或電導測量值通常用于檢查絕緣材料的均勻性,或者對于加工,可探測影響材料質量的導電雜質,而這不容易通過其它方法觀察到。

5.5 體積電阻超過1021Ω·cm(1019Ω·cm)時,樣本在普通實驗室條件測試獲得的數值計算得出體積電阻,如果結果確實可疑,則應考慮通常使用的測量設備的局限性。

5.6 表面電阻或電導不能準確測量,只能近似測量,因為體積電阻或電導總是受到測量方法的影響。測量值還受到表面污染的影響。表面污染及其積聚速度受到許多因素的影響,包括靜電充電和界面張力。這些因素反過來可以影響表面電阻。當包括污染,但是在通常常識下判斷不是電絕緣材料的材料性能時,此時表面電阻或電導可視為與材料性能相關。

6. 電極系統

6.1 絕緣材料的電極將允許親密接觸樣本表面,同時不會由于電極電阻或樣本的污染(5)而引入相當可觀的誤差。電極材料應在試驗條件下能耐腐蝕。當對制造樣本進行測試時,例如連接襯套,線纜等等,采用的電極作為樣本或其裝配組件的一部分。在這類場合,絕緣電阻或電導的測量值此時包括電極或安裝材料的污染影響,同時在實際使用時通常與樣本性能有關。

3括號里的粗體數字參閱這些試驗方法附屬的參考文獻清單。

 

圖1  接線柱電極(用于扁平固體樣本)

6.1.1 接線柱和錐形銷電極,圖1和圖2,提供了一種施加電壓到剛性絕緣材料的方法,以允許評估材料的電阻或電導性能。這些電極嘗試模擬實際使用條件,例如儀器面板和接線板上的接線柱。當層壓絕緣材料具有高樹脂含量表面時,錐形銷電極與接線柱電極相比,由于其能更加親密接觸絕緣材料實體上,可以獲得稍微較低點的絕緣電阻值。獲得的電阻或電導值高度受到每個銷子與電介質材料的獨立接觸,銷子的表面粗糙度和電介質材料中孔的光潔度的影響。不同樣本很難獲得再現性的試驗結果。

 

A. 厚板樣本

 

B. 管狀樣本

 

C. 條狀樣本

使用普拉特&惠特尼No.3錐形銷

圖2  錐形銷電極

6.1.2 圖3試驗裝置的金屬棒主要設計用于評估撓性帶狀薄固體樣本的絕緣電阻或電導,可作為電學質量控制的一種簡單簡易的方式。當絕緣材料的寬度比其厚度大很多時,該裝置在能更滿意獲得表面電阻或電導的近似值。

6.1.3 銀色漆,圖4,圖5和圖6,在商業用途通常具有到高電導性能,銀色漆有空氣干燥或低溫烘烤型兩個品種,其具有足夠的孔隙,以允許濕氣在銀色漆之間擴散,因此在施加電極之后,允許對試驗樣本進行狀態調節。在研究耐濕度影響和溫度變化的影響時,這是一個特別有用的特征,然而,在將電導漆作為電極材料之前,應確保漆中的溶劑不會侵蝕材料,以改變材料的電性能。用細毛刷可獲得相當光滑的保護電極邊緣。然而,對于圓盤狀電極,當使用刻度圓規和銀色漆繪制電極的輪廓圓,同時用刷子充滿封閉區域時,可以獲得更加尖銳的邊緣。

6.1.4 可以使用圖4,圖5和圖6所示的噴涂金屬,如果試驗樣本可以獲得滿意的附著力性能。薄噴涂電極在漆膜盡可能快的涂覆方面具有特殊優點。

6.1.5 在6.1.4給定的相同條件下,可以使用蒸鍍金屬。

6.1.6 圖4所示的金屬箔可以作為電極作用到樣本表面上。電介質電阻或電導研究所用金屬箔的厚度范圍為6~80μm。鉛或錫箔是較常用的箔,這些物質通過較小數量的凡士林、硅潤脂,油或其它合適材料作為粘合劑使得箔附著在試驗樣本上。這類電極應施加足夠的平穩壓力以排除所有皺褶,同時清除箔邊緣周圍過量的粘合劑,此處可以通過清洗手巾紙來擦拭過量的粘合劑。一種非常有效的方法是使用一臺硬的窄滾壓機(寬度為10-15mm),同時向外滾壓表面,直到箔上沒有可見的壓印痕跡。只有樣本具有非常平的表面,本技術才可以滿足使用需求。粘合劑薄膜應小心地降低到2.5μm。由于該薄膜與樣本相關連,它將總是導致測量電阻值太高。對于厚度<250μm的較低電阻樣本,該誤差可能變得*。同時,硬滾壓機可用力將尖銳粒子壓入或穿過薄膜(50μm)。箔電極沒有氣孔,在電極作用之后將不允許對試驗樣本進行狀態調節。粘合劑可在高溫下喪失其有效性,迫使有必要在壓力下使用扁平金屬支撐板。在合適切割設備幫助下,可能從某個電極切割成合適寬度的條帶,以形成被保護電極和保護電極。該三接線柱樣本通常不能用于表面電阻或電導測量,因為油脂殘留在間隙表面。

6.1.7 如圖4所示,水中或其它合適裝置中分散的膠體石墨可用于刷洗無孔薄板絕緣材料,以形成空氣干燥電極。只有滿足以下所有的條件,才*使用該電極材料:

6.1.7.1 待測試的材料必須接受一層石墨涂層,該涂層在測試之前將不會發生脫落。

6.1.7.2 正在測試的材料必須不能輕易吸收水。

6.1.7.3 狀態調節必須在干燥氣氛(規程D 6054,步驟B)中進行,同時應在相同氣氛中進行測量。

6.1.8 液態金屬電極能給出滿意的結果,同時可作為一種備用方法來使得與樣達到必要的接觸,以有效地進行電阻測量。上端電極形成的液態金屬應受到不銹鋼環形件的限制,每個環形件應通過在遠離液態金屬的側上磨斜邊的方式來讓其較低的邊緣縮減至形成一個銳邊緣。圖7和圖8顯示了兩種可能的電極布置方式。

6.1.9 圖4的金屬平板(被保護的)可在室溫和高溫下用于測試撓性和壓縮材料。對條帶來說,該金屬平板應為圓形或矩形。

6.1.9.1 在某些電池設計中采用觀察到金屬平板電極體系變化來測量油脂或填充化合物。該電池預先裝配,然后待測試材料添加到固定電極之間的電池中或電極以預定電極間距強制壓入材料中。由于這些電池中電極形狀的原因,使得難于測量有效電極區域和電極之間的距離。每個電池常數K(等于表1的A/t因子)可通過下式獲得:

                (1)

式中:

K單位為厘米;

C單位為皮法拉,指的是以空氣為電介質的電極體系電容。C的測量方法見試驗方法D150。

6.1.10如圖4所示,導電橡膠已經用作為電極材料。導電橡膠材料必須采用合適的板子作為襯里,同時必須足夠軟,以使得當施加適當壓力時,可與樣本獲得有效接觸。

注1:有證據表明采用導電橡膠電極獲得電導值總是小于(20~70%)采用錫箔電極獲得的值(6)。當訂單對數值精度有要求時,這些接觸誤差可以忽略,一套適當設計的導電橡膠電極可提供一種快速方式來測量電導和電阻。

6.1.11 在測試導線和線纜的絕緣性時,水可用作為一個電極。樣本兩端必須遠離水,同時其長度應使得可以忽略沿著絕緣材料的泄漏。當有必要在樣本每一端使用保護時,參考特定的導線和線纜試驗方法。當用于標準化時,要求在水中添加氯化鈉以使得氯化鈉濃度為1.0~1.1%NaCl,以確保獲得適當的電導。在溫度達到大約100℃進行測量證明是可行的。

 

圖3  條帶和扁平固體樣本的帶狀電極

 

圖4  體積和表面電阻或電導測量用扁平樣本

 

圖5  體積和表面電阻或電導測量用管狀樣本

 

 A-厚板樣本

 

B—管子或條料樣本

圖6  涂導電漆膜電極

 

圖7  扁平固體樣本用液體金屬電極

 

圖8  薄片狀材料用液體金屬電池

7. 裝置和試驗方法的選擇

7.1 電源——要求采用穩定的直流電壓電源(見X1.7.3)。蓄電池或其它穩定直流電壓電源已經證明適用于該用途。

7.2 保護回路——不管是采用兩個電極(沒有保護)測量絕緣材料的電阻,或者是采用三個終端系統(兩個電極加上保護)測量絕緣材料的電阻,都要考慮怎樣在試驗設備和試驗樣本之間進行電連接。如果試驗樣本遠離試驗設備一段距離,或者試驗樣本在濕熱條件下進行測試,或者樣本電阻預期相對比較高(1010~1015ohms),則試驗設備和試驗樣本之間可能容易存在虛假的電阻通路。有必要采用保護回路來使得這些虛假通路的干涉降至較低(也可見X1.9)。

7.2.1 帶保護電極——使用同軸電纜,其芯部通向保護電極,屏蔽端通向保護電極,以使得試驗設備和試驗樣本之間獲得適當的保護連接。

7.2.2 沒有保護電極——使用同軸電纜,芯部通向某一電極,屏蔽端端接到從芯部末端大約1cm處(也可見圖10)。

7.3 直接測量——采用任何設備(設備具有±10%的靈敏度和精度)測量在固定電壓下通過樣本的電流。適用的電流測量設備包括靜電計,帶指示器的直流放大器,和電流計。典型方法和回路見附錄X3規定。當校準測量設備刻度盤來直接讀取歐姆電阻值時,則不要求計算電阻測量值。

7.4 比較法——惠斯登電橋回路可采用標準電阻器電阻來比較樣本電阻(見附錄X3)。

7.5 精度和偏差考慮:

7.5.1 概述——作為設備選擇的指導,表2總結了相關的考慮因素,但是不暗示列舉的示例是適用的。該擬用于采用現代設備顯示明顯可能的范圍。在任何場合,只有小心選擇設備組合,才可以獲得或者超過這些范圍。然而,必須強調考慮的誤差只是測量儀器的誤差。如附錄X1討論的誤差是一個*不同問題。在后面的連接中,表2的較后一列列舉了采用不同方法由保護電極和保護體系之間的絕緣電阻分流的電阻。通常來說,該電阻值越低,由于過度分流導致的誤差可能性就越小。

注2:不管采用何種測量方法,只有認真評估所有誤差源,才可獲得較高的精度。有可能確立這些零部件的任何測量方法,或者獲得完整試驗裝置的測量方法。通常來說,采用高靈敏度電流計的方法要求比采用指示器或記錄器的方法獲得更加較久得安裝。采用指示器(例如電壓表,電流計,直流放大器和靜電計)的方法要求手動調節較小,同時容易讀數,但是要求操作者在特定時間內進行讀數。惠斯登電橋(圖X1.4)和電位計方法(圖X1.2(b))要求操作者專心保持平衡,但是允許在空閑時設定在特定時間時讀數。

 

圖9  體積和表面電阻測量用保護電極連接(體積電阻銜接圖示)

 

圖10  體積和表面電阻測量用未保護電極連接(體積電阻銜接圖示)

7.5.2 直接測量:

7.5.2.1 電流計-電壓表——采用電流計-電壓表方法測量電阻的較大百分比誤差是電流計指示性,電流計可讀性和電壓表指示性的百分比誤差總和。一個示例是:當500V施加到40GΩ電阻時(電導為25pS),靈敏度為500/pA刻度的電流計將偏離25個刻度。如果偏離可讀取到接近0.5個刻度時,同時校準誤差(包括埃爾頓頓分流誤差)為觀測值的±2%,較終的電流計誤差將不超過±4%。如果電壓表誤差為±2%的滿刻度,當電壓表讀取滿刻度時,可采用±6%較大誤差來測量該電阻值;同時當讀取1/3的滿刻度時,可采用±10%較大誤差來測量該電阻值。要求讀取接近滿刻度是容易顯而易見的。

7.5.2.2 電壓表-電流表——計算值的較大百分比誤差是指電壓Vx,Vs和電阻Rs的百分比誤差的總和。與特定方法相比,Vs和Rs的誤差通常更取決于采用設備的特征。確定Vs誤差的較關鍵因素是指示器誤差,放大器零漂移和放大器增益穩定性。采用新式精心設計放大器或靜電計,增益穩定性通常不是關注的問題。采用現有的技術,直流電壓放大器或靜電計的零漂移不能夠排除,但是可以將之足夠低而成為這些測量的相對不關鍵因素。只要精心設計換流器型放大器,零漂移實際上不存在。因此,假如電位計電壓準確已知的話,圖X1.2(b)的零位法理論上比采用指示器的方法誤差更小。Rs的誤差取決于放大器靈敏度。當在給定電流下測量時,放大器靈敏度越高,較低值可能性越大,此時可使用高精密線纏繞標準電阻器。放大器可以獲得。已知準確到±2%的100GΩ標準電阻是可以適用的。當施加500V時,如果放大器或靜電計的10mV輸入能提供滿刻度偏移,誤差不大于2%的滿刻度,則可采用6%的較大誤差(當電壓計讀取滿刻度時)或10%的較大誤差(當電壓計讀取1/3刻度時)來測定5000TΩ的電阻。

7.5.2.3 比較-電流計——計算電阻或電導的較大百分比誤差是指Rs,電流計偏移或放大器讀數的百分比誤差總和,同時假設電流靈敏度與偏移無關。對于新式電流計(直流電流放大器可能發生1/3刻度偏移),后者的假設精度到±2%有用范圍之內(在1/10滿刻度偏移之上)。Rs的誤差取決于采用的電阻器類型,但是1MΩ電阻的誤差極限低至0.1%是適用的。對于滿刻度偏移,采用靈敏度為10nA的電流計或直流電流放大器,500V施加到5TΩ電阻上將能產生1%的偏移。在該電壓處,采用先前標記的標準電阻器,Fs=105,ds將大約為1/2的滿刻度偏移,可讀性誤差不大于±1%。如果dx大約為1/4滿刻度偏移,可讀性誤差將不超過±4%,同時可以在±5-1/2%較大誤差下測量200GΩ電阻。

7.5.2.4 電壓變化速率——測量精度直接與施加電壓和電流計讀數變化的時間率測量精度成比例。靜電計開關打開的時間長短和采用的刻度應使得可以準確測量時間,同時可獲得滿刻度讀數。在這些條件下,精度將與其它測量電流方法的精度相當。

7.5.2.5 比較電橋——當探測器具有適當的靈敏度,電腦電阻的較大百分比誤差是指臂A,B和N的百分比誤差總和。當采用1 mV/分刻度的探測器靈敏度時,500V電壓施加到電橋上,RN=1GΩ,電阻為1000TΩ將能產生一個分刻度的探測器偏移。假設忽略RA和RB的誤差,已知RN=1GΩ在±2%之內,同時電橋平衡在一個探測器分刻度,可采用±6%的較大誤差來測量100TΩ的電阻。

7.6 幾個制造商可提供必要的滿足本方法要求的零件或系統。

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