半導體高低溫沖擊測試箱技術參數(shù)：
1.型號：3AP-CJ-50C；3AP-CJ-80C；3AP-CJ-100C；3AP-CJ-150C；3AP-CJ-250C；
2.內箱尺寸：35×35×40cm；50×40×40cm；60×40×60cm；60×50×50cm；70×60×60cm；
3.測試設備可選擇的沖擊溫度有：A： -40℃～150℃； B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃
4.高溫儲存槽溫度范圍：RT~180℃或RT~200℃
5.低溫儲存槽溫度范圍：RT～-55℃；RT～-65℃；RT～-75℃（根據測試溫度而定）
6.高溫儲存槽升溫時間：RT-200℃約需30分鐘
7.降溫時間：RT～-75℃約需40分鐘（根據尺寸大小跟實際測試溫度有影響）
8.冷熱沖擊測試可設定時間:0.1～999.9小時,循環(huán)周期1～9999可設定.
9.沖擊恢復時間：高溫(80℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復時間:5分鐘以內.
10.結構材質：整臺測試設備為進口SUS優(yōu)質304不銹鋼板霧面處理（個別客戶有選擇鋼板烤漆加色處理），內箱均為進口SUS#304不銹鋼,配件：測試孔(φ50×1只)，試料架(2組)。
11.冷凍系統(tǒng)：復疊水冷式歐美*法國泰康全封閉或德國比澤爾半密閉式壓縮機組.此兩*壓縮機始終以質量高，耗電低，使用壽命長，運行穩(wěn)定而立不敗之地。
12.控制器：大型LED彩色觸控人機界面控制器or單顯LED觸控人機接口控制器.
13.半導體高低溫沖擊測試箱必配的安全保護裝置：超壓、加熱干燒無熔絲過載保護器，壓縮機過熱、過流、、箱內超溫警報系統(tǒng).
本產品不同于普通的高低溫試驗設備，這是一臺高性價比的測試設備，價格低約10萬左右，貴會有幾十萬或者上百萬一臺的售價，所以從價格上也可以大概了解此設備的價值不低。本設備主要用于測試成品、半成品或原材料對極冷或極熱的環(huán)境溫度抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊測試設備能使各種物品在短的時間（3~5分鐘)內完成測試。因為要求極短的沖擊時間，所以不管是制熱還是制冷都需要大功率、高技術、高成本來制作，這樣可以超仿真現(xiàn)實環(huán)境中因熱脹冷縮所引起的物理傷害，采用微電腦PID系統(tǒng)，利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽，依動作需要打開對應儲溫槽的閥門，將儲存槽內之冷熱溫度導入測試設備產品箱內從而達到快速冷熱沖擊測試的效果,平衡調溫控制系統(tǒng)（BTC）+ 特殊設計之送風循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能*穩(wěn)定的使用。?
