在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時,XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管,測量點*小可達約100μm,同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外,XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創造*佳的激勵條件。 ?