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上海魅宇儀器設備有限公司
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數顯磁性測厚儀參數：測量范圍： O-200m。執行標準： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。測量精度：（ 0.7m 3%H ）*H為標準厚度。
您購買數顯磁性測厚儀時對產品存有疑慮，請致電我公司銷售部，將對您的疑慮進行解答。數顯磁性測厚儀包裝、注冊商標等符合國家有關規定。上海魅宇圍繞客戶的需求持續創新，與合作伙伴開放合作，在儀器領域構筑了解決方案優勢。我們致力于為儀器行業提供有競爭力的綜合解決方案和服務，持續提升客戶體驗，為客戶創造大價值。
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參數：
■測量范圍： O-200μm。
■執行標準： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
■測量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標準厚度。
測厚儀原理分類：
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
■點接觸式測厚儀
■面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據其測試原理不同，又可分為以下幾種：
■激光測厚儀
■超聲波測厚儀
■涂層測厚儀
■X射線測厚儀
■白光干涉測厚儀
■電解式測厚儀
測厚儀應用：
■薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
■涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
■超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
■激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。
■X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工.
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
用途：
該測厚儀測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。專用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。
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