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膜厚儀

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更新時間：2024-11-28 13:06:49瀏覽次數：101次

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北京華海恒輝科技有限公司

經營模式：經銷商

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產品簡介

本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。是材料保護和生產控制儀器。

詳細介紹

適用范圍：	HS系列覆層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
主要功能：	可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進行測量；三種校準方法：一點校準、二點校準、基本校準；顯示分辨率： 0.1μm（測量范圍小于100μm） 1μm （測量范圍大于100μm）有兩種工作方式：直接方式和成組方式有兩種測量方式：連續測量和單次測量有兩種關機方式：手動關機和自動關機可設置限界：對限界外的測量值能自動報警，并可用直方圖對一批測量值進行分析；有刪除功能：對粗大誤差及錯誤設置可進行刪除處理；打印功能：可打印測量測量值、統計值、限界、直方圖
測量范圍：	（1）F400探頭、N400探頭：0—400μm （2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭：0—1250μm （3）F10探頭：0—10000μm （4）CN02探頭：10-200μm（根據測量要求選用不同探頭）
測量精度：	不同探頭精度要求不同（1）F400探頭、N400探頭：一點校準：（2%+0.７）；二點校準：（1%+0.７）（2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭、CN02探頭：一點校準：（2%+1）；二點校準：（1%+1）（3）F10探頭：一點校準：（2%+10）；二點校準：（1%+10）
使用溫度：	0～40℃
外型尺寸：	150×80×30m
重量：	250g

功能	HS2100F	HS2100N	HS3100	HS4100
測量原理	磁性	渦流	磁性/渦流	磁性/渦流
測量范圍	標準配置探頭（F1/N1)：1～1250μm
測量精度	±（2%H+1）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）
統計量	平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV)
存貯和統計	15個測量值
測量精度	±（2%H+1）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）
零點校準	√	√	√	√
二點校準	√	√	√	√
刪除功能	√	√	√	√
自動關機	√	√	√	√
蜂鳴聲提示	√	√	√	√
測量方式	√	√	√	√
欠壓指示	√	√	√	√
錯誤提示	√	√	√	√
標準配置	主機 F1探頭基體校準片說明書包裝箱	主機 N1探頭基體校準片說明書包裝箱	主機 F1(N1)探頭基體校準片說明書包裝箱	主機打印機 F1(N1)探頭基體校準片說明書包裝箱
選配件	F1、F400、F10測頭 N1、N400測頭			通訊軟件 F1、F400、F10測頭 N1、N400測頭